| TFMT13 |
Mätteknik, 4 hp
/Measurement Technology/
För:
D
DI
|
| |
Prel. schemalagd
tid: 38
Rek. självstudietid: 69
|
| |
Utbildningsområde: Teknik
Huvudområde: Datateknik, Elektroteknik Nivå (G1,G2,A): G1
|
| |
Mål:
IUAE-matris
Efter kursen ska studenten kunna:
- redogöra för principer och lösa problem vid mätning av spänning, ström, impedans och effekt i diskreta nät och enkla nät av transmissionsledningskaraktär.
- förklara uppkomst av och föreslå åtgärder mot elektriska störningar.
- redogöra för funktioner hos mätkort och mätdatorer och hur man kan använda datorer för att utföra mätningar via externa instrument med i LabView miljö
- ge exempel på och lösa problem med temperaturgivare och transmittrar
|
| |
Förkunskaper: (gäller studerande antagna till program som kursen ges inom, se 'För:' ovan)
OBS! Tillträdeskrav för icke programstudenter omfattar vanligen också tillträdeskrav för programmet och ev. tröskelkrav för progression inom programmet, eller motsvarande.
|
| |
Påbyggnadskurser
God förberedelse inför kommande kurser i elektronik.
|
| |
Organisation:
Kursen ges i form av föreläsningar och laborationer med tyngdpunkt på den laborativa delen.
|
| |
Kursinnehåll:
Mätning av ström och spänning med multimeter och oscilloskop. Mätkretsens påverkan vid olika impedansförhållanden och instrumentbelastning med några olika kabeltyper och frekvensområden. Digitalt oscilloskop med tillämpningsmätning av pulser och pulsreflexioner på kablar vid olika typer av anpassning.
Mätning och kalibrering med temperaturgivare temperaturgivare med datainsamling med hjälp av DAQ-kort.
Konstruktion av och mätning på ett mätkort för insamling av mätdata. Mätkortet konstrueras med MUX (multiplexer), SOH (sample och hållkrets) och ADC (Analog/digitaomvandlare) och kontrollmäts kontinuerligt under uppbyggnaden. Det utprovade mätkortet ansluts till datorn och ett enkelt program konstrueras för insamling av mätdata.
Temperaturmätning med integrerad halvledarkrets och styrning av värmetillförseln till låda. Vid mätningen uppträdande störningar (brum och brus) reduceras genom medelvärdesbildning.
Elektriska störningar; uppkomst och reducering av kapacitivt (elektriskt fält) och induktivt (magnetiskt fält) kopplade störningar. Effekter av olika utformning av jordning och skärmning undersöks. Kommunikation och styrning av mätinstrument via datorn (SCPI, USB, GPIB m.fl.)
|
| |
Kurslitteratur:
Laborationshandledningar, Särtryck och datablad.
|
| |
Examination: |
UPG2
LAB1
|
Hemtentamen (U,3,4,5)
Laborationer (U,G)
|
1 hp
3 hp
|
| |
|
|