| TFFM40 |
Materialtekniska analysmetoder, 4 p
/
6 hp
/Analytical Methods in Materials Science/
För:
Y
YMP
|
| |
Prel. schemalagd
tid: 86
Rek. självstudietid: 74
|
| |
Utbildningsområde: Naturvetenskap
Ämnesgrupp: Fysik Nivå (A-D):C
Huvudområde: Fysik, Teknisk fysik Nivå (G1,G2,A): A
|
| |
Mål:
Målet är att studenten skall ha förvärvat såväl en fördjupad kunskap om principerna för moderna fysikaliska mätmetoder som praktiska erfarenheter av analysinstrument av den typen som används inom dagens avancerade materialforskning. Detta innebär att studenten skall:
- Förstå principerna bakom växelverkan mellan fasta material och elektromagnetisk strålning, elektroner och joner.
- Erhålla grundläggande kunskaper om diffraktion och kontrastteori.
- Förvärva praktisk färdighet genom att arbeta med analysinstrumenten, endera själv eller i grupp med andra.
- Förstå hur de olika analysmetoderna kompletterar varandra vid grundläggande materialanalys.
- �-va rapportskrivning genom att i grupper om två sammanställa de resultat som erhållits via de olika analysteknikerna
- Kunna dra slutsatser om de olika teknikernas tillämpbarhet vid grundläggande analys av olika material.
|
| |
Förkunskaper: (gäller studerande antagna till program som kursen ges inom, se 'För:' ovan) TFFY70 Materiefysik, inl. kurs. �-nskvärt, men ej krav, är att kursen TFFM08, Experimentell fysik har genomgåtts.
OBS! Tillträdeskrav för icke programstudenter omfattar vanligen också tillträdeskrav för programmet och ev. tröskelkrav för progression inom programmet, eller motsvarande.
|
| |
Påbyggnadskurser Doktorandkurser i Elektronmikroskopi och Kristallografi och diffraktion på IFM.
|
| |
Organisation: Föreläsningar: totalt 14 timmar omfattande 8 föreläsningar.
Laborationer: totalt 72 timmar omfattande 9 heldagslaborationer.
Kursen pågår under hela vårterminen.
|
| |
Kursinnehåll: Föreläsningarna avhandlar dels de fysikaliska principerna för växelverkan mellan fasta material och elektromagnetisk strålning, elektroner och joner, dels de grundläggande principerna för diffraktion och kontrastteori. Vidare studeras principerna och användningen av mikroprober, elektronspektroskopiteknikerna (AES och XPS), röntgendiffraktion, elektronmikroskopi (SEM och TEM), ljusoptisk mikroskopi, och ellipsometri. Laborationer i ljusoptiskt mikroskop, metallmikroskop. Transmissionselektronmikroskopi, kontrast, provberedningsteknik. Elektrondiffraktion, fasidentifiering. Svepelektronmikroskopi. Mikrosondanalys för kemisk sammansättningsbestämning. Röntgenfotoelektronspektroskopi, XPS. Augerelektronspektroskopi, AES. Ellipsometri. Röntgendiffraktion.
|
| |
Kurslitteratur: PEJ Flewitt and RK Wild: Physical Methods for Materials Characterization. Laborations-PM. Föreläsningsanteckningar. Laborations-PM �?oEgna föreläsningsanteckningar�?�
|
| |
Examination: |
TEN1 LAB1
|
En skriftlig tentamen bestående av teoriuppgifter och problemlösning (U,3,4,5) En laborationskurs (U,G) |
1 p 3 p
|
/ /
|
1,5 hp 4,5 hp
|
| |
|
|
|