| TFFM40 |
Materialtekniska analysmetoder, 4 p
/Analytical Methods in Materials Science/ |
||
Prel. schemalagd
tid: 86 |
|||
|
Utbildningsområde: Naturvetenskap Ämnesgrupp: Fysik Nivå (A-D):C |
|||
|
Mål:
Målet är att ge en fördjupad kunskap om principerna för moderna fysikaliska mätmetoder och färdighet att använda kvalificerade analysinstrument för avancerad materialforskning, med sikte på en forskningsledande roll i yrkeslivet. Kursens huvudinriktning är investeringstunga analysinstrument av den typ som används på ett välutrustat materiallaboratorium inom industrin, forskningsinstitut, eller ledande akademiskt lärosäte. Kursen skall verka forskningsförberednade (IFM rekryterar av hävd flera teknologer med denna bakgrund). |
|||
| Förkunskaper: (gäller studerande antagna till program som kursen ges inom, se 'För:' ovan) TFFY70 Materiefysik, inl. kurs. �-nskvärt, men ej krav, är att kursen TFFM08, Experimentell fysik har genomgåtts. OBS! Tillträdeskrav för icke programstudenter omfattar vanligen också tillträdeskrav för programmet och ev. tröskelkrav för progression inom programmet, eller motsvarande. |
|||
| Påbyggnadskurser Doktorandkurser i Elektronmikroskopi och Kristallografi och diffraktion på IFM. |
|||
| Organisation: Föreläsningar: totalt 14 timmar omfattande 8 föreläsningar. Laborationer: totalt 72 timmar omfattande 9 heldagslaborationer. Kursen pågår under hela vårterminen. |
|||
| Kursinnehåll: F�-REL�"SNINGAR: 1) Sammansättningsanalys: Fysikalisk princip, konstruktion och användning av: Mikrosond, Augerelektronspektroskopi (AES), Röntgenfotoelektronspektroskopi (XPS) och Ellipsometri. 2) Strukturanalys: Fysikalisk princip, konstruktion och användning av: Ljusoptiska mikroskop, transmissionselektronmikroskop, svepelektronmikroskop, atomkraftsmikroskopi och röntgendiffraktion. 3) Elektroners växelverkan med materia, kontrastteori och elektrondiffraktion. LABORATIONER: Ljusoptiskt mikroskop, metallmikroskop. Transmissionselektronmikroskopi, kontrast, provberedningsteknik. Elektrondiffraktion, fasidentifiering. Svepelektronmikroskopi. Mikrosondanalys för kemisk sammansättningsbestämning. Röntgenfotoelektronspektroskopi, XPS. Augerelektronspektroskopi, AES. Ellipsometri. Röntgendiffraktion. |
|||
| Kurslitteratur: PEJ Flewitt and RK Wild: Physical Methods for Materials Characterization. Laborations-PM. Föreläsningsanteckningar. |
|||
| Examination: | |||
| TEN1 LAB1 |
En skriftlig tentamen bestående av teoriuppgifter och problemlösning (U,3,4,5) En laborationskurs (U,G) |
1 p 3 p |
|
Undervisningsspråk är Engelska.
Institution: IFM.
Studierektor: Leif Johansson
Examinator: Hans Högberg
Länk till kurshemsida på kursgivande institution
Ansvarig utbildningsnämnd: UNY
Engelsk kursplan
Om inget annat anges ovan gäller betygsskala enligt avsnitt a8.5 i de gemensamma bestämmelserna.
Kursplanen gäller för 2005 enligt beslut av ansvarig utbildningsnämnd.
 |
||||||
| ||||||