| TFFY35 | Halvledarfysik, 3,5 poäng /Semiconductor Physics/ För: Y4 | |
| Utbildningsområde: Naturvetenskap Ämnesgrupp: Fysik | ||
| Fördjupningsnivå: D | ||
| Mål: Halvledarfysiken är en central del av modern materialfysik, och är basen för förståelsen av såväl funktionen av modern elektronik som förmågan att konstruera elektronikkomponenter och kretsar. Kursen är av grundläggande natur, och behandlar fysikaliska begrepp och materialegenskaper hos halvledarmaterial och artificiella halvledarstrukturer t ex heterostrukturer, kvantbrunnar och supergitter. Vidare behandlas moderna metoder för tillväxt och dopning av halvledarstrukturer. Ett viktigt avsnitt i kursen utgörs av olika karakteriseringsmetoder, som presenteras mer ingående vid de laborationer, som ingår i kursen.Förkunskaper: TFFY 70 Materiefysik inl k, TFFY 54 Kvantmekanik rekommenderas.Påbyggnadskurser: TFFY 96 Fasta tillståndets elektronik, TFFY 34 HalvledarteknikOrganisation: Föreläsningarna ger en genomgång av såväl den teoretiska bakgrunden som olika experimentella metoder och processer. Lektionerna avser huvudsakligen problemlösning, men även i viss utsträckning demonstrationer av forsknings- och produktionsfaciliteter. Laborationerna behandlar moderna metoder för karakterisering av halvledarmaterial och halvledarstrukturer.Kursinnehåll: A - Metoder för tillväxt av halvledarstrukturer, - Kristallstrukturer, - Energiband - olika modeller, - Defekter i halvledare, Effektiv mass-modellen, - Fördelningsfunktioner för elektroner och hål, - Transportegenskaper, spridningsprocesser, - Optiska egenskaper, Absorption, Excitoner, - Rekombinationsprocesser, - Heterostrukturer, - Kvantbrunnar, supergitter: Tillståndstäthet, dopning, elektronisk struktur, karakterisering, - Kvant-Hall effekten, Stark effekt, - Moderna metoder för karakterisering av halvledare (optiska, elektriska, magnetiska etc), - Kvanttrådar och kvantpunkter, B Laborationer: 1 Karakterisering av halvledarstrukturer med elektriska mätningar (Hall-effekt, DLTS), 2 Rekombination i halvledare, strålande processer, luminiscens, 3 Optisk karakterisering av halvledare med Fouriertransformteknik (Fononer, defekter).Kurslitteratur: C.M Wolfe, N. Holonyak, G.E. Stillman: Physical Properties of Semiconductors kompletterad med separata artiklar | ||
| TEN1 | En skriftlig tentamen, 2 p. | |
| LAB1 | Laborationskurs godkänd, 1,5 p. | |
| Undervisningsspråk är svenska eller engelska. Engelska om det finns engelsk-språkiga studenter. | ||
Undervisningsspåk är svenska.
Engelsk kursplan