studiehandbok@lith   Länk till universitetets hemsida
 

Tekniska högskolan vid Linköpings universitet

Länk till universitetets hemsida
 
År : 2006
 
TFYA03 Tillämpad optik, 4 p
/Applied Optics/

För:   Fys   Y   YMP  


OBS!

TFYA03 och och TFYA04 överlappar. Om båda varianterna önskas kontakta UNY


 

Prel. schemalagd tid: 46
Rek. självstudietid: 114

  Utbildningsområde: Naturvetenskap

Ämnesgrupp: Fysik   Nivå (A-D):D

  Mål:
Kursens övergripande mål är att ge fördjupade kunskaper om fysiken bakom fasta materials linjära optiska egenskaper, beskriva metoder att bestämma dessa egenskaper samt ge exempel på hur de kan utnyttjas i mätmetoder och optiska system. Tillämpningsexempel väljs från områdena materialfysik, ytbiologi, medicin m fl och syftar till att belysa pågående forskning och utveckling inom såväl universitet som industri. Tonvikt i exemplen läggs på bestämning av optiskt relaterade materialegenskaper såsom brytningsindex och bandgap samt på bestämning av mikrostruktur såsom tjocklek av tunna ytskikt och analys av multilagrade system, materialsammansättning, porositet mm. Som en annan viktig tillämpningsdel ingår biosensorer och kemiska sensorer baserade på ytor, tunna skikt och optiska metoder. Kursen avser att förmedla grundläggande kunskaper i optik på en sådan nivå att det räcker för att förstå resultat från pågående internationell forskning inom motsvarande områden samt för att förbereda för industriella tillämpningar. Följande delmål är uppställda: Kunskapsinhämtning av grundläggande teori med förankring i fysik med syfte att ge en förståelse för den optik/fysik som är relevant för materials linjära optiska egenskaper. Den nyfikne fysikern får här sitt! Förståelse av matematiska modeller för analys med syfte att tillhandahålla fysikaliska/matematiska verktyg som är användbara för att utveckla och beskriva de optiska system, metoder och komponenter som finns i olika miljöer i samhället och som behöver utvecklas vidare. Ingenjören får här sina redskap! Verklighetsförankring genom tillämpningsexempel från forskning med syfte att visa att det är ett kort steg mellan universitetsstudierna och den kunskap och de metoder som används inom forskning och utveckling. Tvivlaren får här lugnande besked! Praktiskt arbete genom användning av kunskap/modeller i laborationer och simuleringar för att testa teorier och modeller för att förstå dessas användbarhet och begränsningar. Inlärningsmål 1: kunskapsinhämtning - Relationer mellan materials mikroskopiska egenskaper (dipoler) och makroskopiska optiska egenskaper (dielektricitetsfunktionen) - Orientering om anisotropa optiska egenskaper såsom dubbelbrytning - Spektrala egenskaper: absorption och dispersion - förståelse av sammansatta materials optiska egenskaper - grundläggande förståelse av polarisation av ljus - detaljerade förståelse av ytoptik. Inlärningsmål 2: att fylla verktygslådan med modeller och metoder för praktiskt bruk - Olika modeller för att parametrisera optiska egenskaper - Effektiva-mediamodeller för sammansatta material - Matrismodeller för att beskriva polariserat ljus - Metodik och matrismodeller för att beskriva reflektion och transmisson av ljus vid ytor med eller utan ytskikt - Optiska mät- och sensormetoder: reflektans, ellipsometri, ytplasmonresonans och optiska vågledare. Sammanfattningsvis är ambitionen med kursen att beskriva hela vägen från fysik till tillämpning och samtidigt tillhandahålla modeller, metodologi och verktyg som är praktiskt användbara.

  Förkunskaper: (gäller studerande antagna till program som kursen ges inom, se 'För:' ovan)
TFFY70 Materiefysik, inledande kurs, rekommenderas.

OBS! Tillträdeskrav för icke programstudenter omfattar vanligen också tillträdeskrav för programmet och ev. tröskelkrav för progression inom programmet, eller motsvarande.

  Organisation:
Kursen ges i form av föreläsningar där även tillämpningsexempel behandlas. Gästföreläsare inbjuds för att ge kursinnehållet ett bredare perspektiv. En studieresa ingår, om möjligt, i kursen. Halva kursen (2p) samläses med Materialoptik TFYA04. För närvarande kan antingen TFYA03 eller TFYA04 läsas men inte båda.

  Kursinnehåll:
Materialoptik, ljus och växelverkan mellan ljus och material (2p) â?" mest teori -Optiska egenskaper: Komplexa dielektricitetsfunktionen, komplexa brytningsindex och optisk konduktivitet; Koppling mellan dipoler (mikro) och dielektricitetsfunktionen (makro), Clausius-Mossotti; Symmetriegenskaper för dielektricitetsfunktionen, kausalitet, Kramers-Kronigsamband, beskrivning av dielektricitetsfunktionen som poler i komplexa talplanet; Anisotropa material, tensoregenskaper hos dielektricitetsfunktionen, dubbelbrytning, dikroism, optisk aktivitet, magnetooptik; Optiska egenskaper som funktion av vÃ¥glängd: fononer och molekylära processer i IR, elektroniska processer i UV/VIS; Modeller för dielektricitetsfunktionen: Lorentz, Drude, empiriska, semi-empiriska, parametriska; orientering om kvantmekaniska modeller; FrÃ¥n optik till andra omrÃ¥den: ledningsförmÃ¥ga, van der Wahlskrafter, kristallorientering, temperaturutvidgning, â?¦.. -Heterogena media: Effektiva media-konceptet: dielektricitetsfunktionen genom lösning av Maxwellâ?Ts ekvationer i komplexa geometrier; NÃ¥gra exakt lösbara geometrier: skiktade material; Sfärer i vakuum: Lorentz-Lorents modellen; Modeller enligt Maxwell-Garnett, Bruggeman; Effekter av partikelform; Begränsningsteorem för dielektricitetsfunktionen - Polarisation: Plana vÃ¥gor, att tänka i vÃ¥gvektorer; Komplex-talbeskrivning av polarisation; Polarisationsellips; Jones formalism; Polarisationsbeskrivning med olika basvektorer - Reflektion: Gränsyteoptik: Fresnelâ?Ts ekvationer för snett infall och komplexa brytningsindex; Total internreflektion, evanescenta fält; Reflektion mot ytor med ett skikt: Airy-modellen; Reflektion mot ytor med flera skikt: beskrivning med spridningsmatrisformalism - Metodöversikt: Reflektans, transmittans; Ellipsometri; Ytmodbaserade (TM - ytpolaritoner, TE â?" optiska vÃ¥gledare. Optisk mätteknik/sensordel (2p) â?" mest teknik och tillämpning -Reflektans: Teori och instrumentering; Ytinspektion med reflektans; Interferens; Reflektionsinterferensspektroskopi - Ellipsometri: Teori och instrumentering; Mikrostrukturmätning; Bestämning av optiska egenskaper; Sensortillämpningar - Ytplasmonresonans; Teori och instrumentering; Biosensorer - Optiska vÃ¥gledare; Teori och instrumentering; Tillämpningar. Se vidare pÃ¥ kursen hemsida.

  Kurslitteratur:
Kompendium (Thin Film Optics, H Arwin) och särtryck.

  Examination:
TEN1
LAB1
En skriftlig tentamen (U,3,4,5)
Laborationer (U,G)
3,5 p
0,5 p
 
Andra former av examination, tex hemtentamen, kan ges som alternativ.



Undervisningsspråk är Engelska.
Institution: IFM.
Studierektor: Leif Johansson
Examinator: Hans Arwin
Länk till kurshemsida på kursgivande institution
Ansvarig utbildningsnämnd: UNY

Engelsk kursplan
Om inget annat anges ovan gäller betygsskala enligt avsnitt a8.5 i de gemensamma bestämmelserna.
Kursplanen gäller för 2006 enligt beslut av ansvarig utbildningsnämnd.


Tekniska högskolan vid Linköpings universitet

Länk till sidans topp


Informationsansvarig: TFK , val@tfk.liu.se
Senast ändrad: 11/14/2005