| TDDC33 |
Design av digitala testbara system, 4 p
/
6 hp
/Design for Test of Digital Systems/
För:
D
SOC
Y
|
| |
Prel. schemalagd
tid: 32
Rek. självstudietid: 128
|
| |
Utbildningsområde: Teknik
Ämnesgrupp: Datateknik, Elektroteknik Nivå (A-D):D
Huvudområde: Datateknik, Elektroteknik Nivå (G1,G2,A): A
|
| |
Mål:
IUAE-matris
Kursens syfte är studenterna ska förvärva kunskap om betydelsen av design av testbara digitala system och utveckla förmåga att formulera och lösa problem relaterat till testning. Efter avslutad kurs ska student kunna:
- redogöra för grundläggande test och fel begrepp
- metodiskt lösa testrelaterade problem i en utvecklingsmiljö
- formulera och implementera/applicera test algoritmer
|
| |
Förkunskaper: (gäller studerande antagna till program som kursen ges inom, se 'För:' ovan) Kursen förutsätter grundläggande datorvana, grundläggande programmering, grundläggande digitalteknik, grundläggande datorarkitektur och grundläggande konstruktion av digitala system.
OBS! Tillträdeskrav för icke programstudenter omfattar vanligen också tillträdeskrav för programmet och ev. tröskelkrav för progression inom programmet, eller motsvarande.
|
| |
Organisation: Teorin behandlas i en föreläsningsserie och på lektioner. Förmågan att lösa problem tränas med hjälp av laborationer.
|
| |
Kursinnehåll: Följande ämnen behandlas under föreläsningar och lektioner:
- defekter, felmodeller och test generation
- preparation för test, design-för-test tekniker
- applikation av test
|
| |
Kurslitteratur: VLSI Test Principles and Architectures, Luang-TernG Wang, Chen-Wen Wu, Xiaoqing Wen
|
| |
Examination: |
TEN1 LAB1
|
En skriftlig tentamen (U,3,4,5) En laborationer och projektuppgift (U,G) |
3 hp 3 hp
|
| |
|
Slutbetyget baseras i första hand på tentamen, men kan höjas om studenten gör bra prestationer inom momentet LAB1. |